HOMMEL-ETAMIC OPTICLINE CHR302 (JENOPTIK)

Оптическая измерительная станция Opticline CHR302 снабжена оптикой высокого разрешения. Продолжить чтение «HOMMEL-ETAMIC OPTICLINE CHR302 (JENOPTIK)»

HOMMEL-ETAMIC OPTICLINE СЕРИЯ CA (JENOPTIK)

Измерительная система Opticline СА разработана специально для использования в среде автоматизированных процессов. Продолжить чтение «HOMMEL-ETAMIC OPTICLINE СЕРИЯ CA (JENOPTIK)»

HOMMEL-ETAMIC OPTICLINE СЕРИЯ C (JENOPTIK)

Система OPTICLINE — это универсальное решение для применения на производстве. Измерительная система Opticline С.

Продолжить чтение «HOMMEL-ETAMIC OPTICLINE СЕРИЯ C (JENOPTIK)»

HOMMEL-ETAMIC SHAFTSCAN (JENOPTIK)

Благодаря самым современным аппаратным средствам и передовому программному обеспечению Shaftscan 1030 обеспечивает высокоточные измерения коленчатых и распределительных валов. Продолжить чтение «HOMMEL-ETAMIC SHAFTSCAN (JENOPTIK)»

HOMMEL FMS (JENOPTIK)

Станция для контроля отклонений формы с поворотной измерительной шпиндельной головкой — лучшее решение для измерения тяжелых и крупных изделий, в отличие от стандартных кругломеров. Продолжить чтение «HOMMEL FMS (JENOPTIK)»

HOMMEL-ETAMIC ROUNDSCAN (JENOPTIK)

Измерительная станция HOMMEL-ETAMIC Roundscan — эргономичность, простое управление и точность измерений с высочайшим качеством. Продолжить чтение «HOMMEL-ETAMIC ROUNDSCAN (JENOPTIK)»

HOMMEL-ETAMIC F435/455 (JENOPTIK)

Удобное измерение формы прецизионных деталей. Кругломеры Hommel-Etamic F435/455 – лучший выбор для измерения круглости и цилиндричности самых сложных деталей.

Продолжить чтение «HOMMEL-ETAMIC F435/455 (JENOPTIK)»

HOMMEL-ETAMIC F135/155 (JENOPTIK)

Удобное измерение формы прецизионных деталей. Кругломеры F135 и F155 – лучший выбор для измерения круглости и цилиндричности самых сложных деталей. Продолжить чтение «HOMMEL-ETAMIC F135/155 (JENOPTIK)»

Hommel-Etamic Nanoscan (JENOPTIK)

HOMMEL nanoscan 855 комбинированный прибор для одновременного контроля шероховатости и контура поверхности за один проход. Продолжить чтение «Hommel-Etamic Nanoscan (JENOPTIK)»