Hommel-Etamic T8000 (JENOPTIK)

Hommel-Etamic Т8000 — это лабораторный прибор для контроля шероховатости и контура поверхности.

Предназначен для определения большинства параметров шероховатости по действующим в настоящее время стандартам и расчет специальных параметров.

ФУНКЦИОНАЛЬНЫЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ

HOMMEL-ETAMIC-T8000 - приборы JenoptikМодульная конструкция прибора позволяет максимально точно подобрать комплектацию прибора с учетом задач заказчика и производить одновременные измерения шероховатости и профиля поверхности. Обеспечивает хранение неограниченного числа измерительных программ и протоколов. Возможность использования любых принтеров, поддерживаемых Windows. Возможность сопряжения со всеми программами Windows, напр. Winword, Excel, Write, Access и т.д. Имеется возможность контроля микро- и макропрофилей, а также определения топографии поверхности.

ТЕХНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ
Принцип измерения контактный, с применением опорных и безопорных щупов
Класс точности по DIN4772 Класс 1 (3%)
Диапазон измерения/разрешение ± 8 мкм / 1 нм
± 80 мкм / 10 нм
± 800 мкм / 100 нм
± 8000 мкм / 1000 нм
Единицы измерения Переключаемые мкм/мкдюйм
Применяемые фильтры:
отсечка шага 0,025; 0,08; 0,25; 0,8; 2,5; 8 (мм),
выбираемая
DIN 4768 RC дискретно вычисляемый (мм),
предельная длина волн 0,025; 0,08; 0,25; 0,8; 2,5; 8
DIN EN ISO 11562, часть 1, (50% Гаусс) Гаусс (М1) цифровой фильтр (мм),
предельная длина волн 0,025; 0,08; 0,25; 0,8; 2,5; 8
DIN EN ISO 13565-1 Двойной Гаусс (М2), Rk-параметры
предельная длина волн 0,025; 0,08; 0,25; 0,8; 2,5; 8
ISO 3274/11562 Предельная длина коротких волн лs
выбор по ступеням ?c / ?s 30; 100; 300
Скорость трассирования vt lt — заданная 0,05; 0,15; 0,5 мм/с
или переменная 0,01 — 2,0 мм/с на 0,01 ступени
Длина трассирования lt 0,48; 1,5; 4,8; 15; 48 мм или переменная от до 0,1 — 200 мм
Длина оценки lm 0,40; 1,25; 4,0; 12,5; 40 мм или переменная отсечка предельной длины волн
Отсечка шага ? [мм] 0,08; 0,25; 0,8; 2,5; 8
Измеряемые параметры шероховатости
DIN EN ISO 4287 Ra; Rz; Rmax; Rt; Rq; Rsk; lmo; lo; Rdq; da; ln; La; Lq; Rz-ISO; R3z; Rpm; Rp3z; R3zm; Rp; D; RPc; RSm; Rpm/R3z; lr; Rku; tpif; Rdc; tpia; tpip; tpic; Rt/Ra; Rz1; Rz2; Rz3; Rz4; Rz5; Rmr; Rmr%; Api
по DIN EN ISO 13565 Rk parameters Rpk*; Rpk; Rk; Rvk*; Rvk; Mr1; Mr 2; A1; A2; Vo (70 %) 0.01*Rv / Rk
Профильные параметры по DIN EN ISO 4287 Pt.; Pp; Pz; Pa; Pq; Psk; PSm; Pdq; lp; Pku; tpaf; tpaa; tpab; tpac; Pmr0; APa; APa%; Pmr; Pmr%; Pdc
Параметры волнистости по DIN EN ISO 4287 Wt.; Wp; Wz; Wa; Wq; Wsk; WSm; Wdq; lw; Wku; Wdc
Параметры волнистости по VDA 2007 WD1c; WD1t; WD1sm; WD2c; WD2t; WD2sm
Параметры Motif по DIN EN ISO 12085 R; Rx; AR; Nr; W; Wx; AW; Nw; Wte; P? c (CR, CL, CF)
Статистика от 1 до 999 измерений, диапазон, макс., мин., отклонение
Режимы работы Измерение шероховатости, проведение измерений, дистанционное управление, юстировка, разработка программ, топография
Выравнивание профиля инверсия, грубое. точное, частичное
Подключаемые периферийные устройства: Механизмы подачи wavelineTM 20 / 60 / 120 / 200
Моторизованные колонны wavelift 400 / wavelift 800
Поворотная опора wavetilt 60 / 120 / 200
Датчики измерения контура: индуктивный, цифровой, сканирующий
топография поверхности: устройство позиционирования по оси Y
поворотный модуль waverotor RV150 для трассирования колец вдоль образующей
Электропитание 100 В — 120 В / 200 В — 240 В, переключаемое, 50 — 60 Гц, 235 ВА
Рабочая температура +5 °C От до +40 °C, относительная влажность воздуха макс. 85% без конденсата, (?Т=2?С/ч)
Температура хранения -20 °C От до +50 °C