Hommel-Etamic Nanoscan (JENOPTIK)

HOMMEL nanoscan 855 комбинированный прибор для одновременного контроля шероховатости и контура поверхности за один проход.

УЛЬТРА-ТОЧНАЯ ОПТИКО-МЕХАНИЧЕСКАЯ ИЗМЕРИТЕЛЬНАЯ СИСТЕМА

HOMMEL-ETAMIC NANOSCAN (приборы JENOPTIK)Для синхронного измерения характеристик шероховатости и контура поверхности на криволинейных и наклонных поверхностях необходима высокоточная измерительная система с широким измерительным диапазоном.  HOMMEL nanoscan 855 это СВЕРХ-точная измерительная система с разрешением 0,6 нанометра на диапазоне 24 мм. Одновременно с высокой точностью хода данный прибор обладает превосходными точностными характеристиками параметров микро-геометрии и контура в широком диапазоне.

АВТОМАТИЗИРОВАННЫЙ ЦИКЛ ИЗМЕРЕНИЯ

Станция для контроля шероховатости nanoscan 855 наряду с высокой точностью обеспечивает высокую скорость измерения полностью в  ЧПУ режиме, что гарантирует высокую производительность в контроле качества.

ФУНКЦИОНАЛЬНЫЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ
  • Эргономичный дизайн
  • Система активного подавления вибрации
  • Управление станции с джойстиком
  • Измерение шероховатости и контура за один проход
  • Нет необходимости в выравнивании поверхности перед измерением, что экономит время
  • Возможность измерения шероховатости на сферах
  • Сверхнизкие внутренние шумы
  • Подходит для измерений поверхностей с высокой чистотой обработки
  • Измерение параметров элементов профиля с высокой точностью:
    окружности (радиуса, диаметры, межцентровые расстояния), участки контура (расстояния, углы, шаги, прямолинейность, автовыравнивание) и т.д.
ТЕХНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ
Параметр ед. изм.

Величина

В горизонтальной плоскости
Длина трассирования

мм

0,1 … 200

Скорость трассирования

мм/с

0,05 … 10

Скорость измерения

мм/с

0,05 … 5

Интервал выборки данных

мкм

0,01 … 10

Прямолинейность хода

мкм/мм

0,4 / 200

В вертикальной плоскости
Измерительный диапазон

мм

24

Разрешение

нм

0,6

Измерительное усилие

мН

±0,5 … 50